半導(dǎo)體晶圓玻璃噴墨打點不良標(biāo)記 替代傳統(tǒng)探針打點
藍(lán)茵高精度晶圓打點噴墨系統(tǒng)解決了研發(fā)測試階段的手動不良品涂黑標(biāo)記方式不再適用于量產(chǎn)后的生產(chǎn)需求,以及大多數(shù)設(shè)備無法做到的超精細(xì)標(biāo)記的難題,還確保了在晶圓產(chǎn)品上自動高效識別不良品,高精度、高可靠性的涂黑標(biāo)記的無縫銜接。
晶圓不良標(biāo)記噴墨成品圖
藍(lán)茵高精度晶圓打點噴墨系統(tǒng)解決了研發(fā)測試階段的手動不良品涂黑標(biāo)記方式不再適用于量產(chǎn)后的生產(chǎn)需求,以及大多數(shù)設(shè)備無法做到的超精細(xì)標(biāo)記的難題,還確保了在晶圓產(chǎn)品上自動高效識別不良品,高精度、高可靠性的涂黑標(biāo)記的無縫銜接。
晶圓不良標(biāo)記噴墨成品圖
類別: 半導(dǎo)體 | Tags:
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